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Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at...

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Saibal Basu, Surendra Singh
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Categorías:
Año:
2022
Editorial:
IOP Publishing
Idioma:
english
Páginas:
181
ISBN 10:
0750346965
ISBN 13:
9780750346962
Archivo:
PDF, 41.28 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2022
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